COMWEB 可依工件表面、缺陷定義、取像條件、節拍與驗收標準，整合 CCD 取像、自動光學檢測（AOI）、客製影像判讀、精密定位、PLC 或 PC-based 控制、分選、結果處理與全自動進出料站，建置專用設備或評估既有設備改造，適用於標準檢測設備難以直接對應的材料與製程。可檢項目、精度、誤判、漏判及完整節拍，均以代表性樣品與書面驗收條件確認。
APPLICATIONS
適用工件與製程
下列為常見材料與應用；材料、影像及驗收方式仍應依實際工件進行驗證。
- ✓自動光學檢測（AOI）、外觀瑕疵與品質判定
- ✓相機、鏡頭與光源的取像條件評估
- ✓CCD 影像辨識、品質判定與精密定位
- ✓PLC 或 PC-based 控制與既有設備或機構整合
- ✓片材或捲材的全自動進出料站
- ✓檢測、分選、結果處理與製程銜接
WHAT WE NEED TO KNOW
技術評估所需條件
- 01
工件材質、尺寸、表面、顏色與反光條件為何？
- 02
需要辨識、定位或判定的缺陷特徵，以及合格、不合格與複判標準為何？
- 03
允收精度、誤判、漏判及完整循環節拍如何定義？
- 04
採用片材或捲材？進料站、出料站、搬送、分選與既有設備介面為何？
ENGINEERING BASE
可整合的設備與工程能力
客製視覺設備整合
- 評估輸入：工件、良品與不良品樣品、缺陷或判定定義
- 取像條件：表面材質、反光、顏色、視野與環境光
- 整合範圍：CCD 相機、光源、影像判讀、精密定位、PLC 或 PC-based 控制
- 自動化範圍：片材或捲材進出料站、搬送、分選與結果處理
- 適用產業：半導體、電路板與產業機械
- 驗收條件：可檢項目、精度、誤判、漏判與完整節拍
本頁列示現有機型與服務範圍；最終規格、測試方法與驗收標準以專案文件及實際樣品驗證為準。
FAQ
自動光學檢測（AOI）與客製瑕疵檢測整合常見問題
COMWEB 可以評估 AOI 或客製瑕疵檢測設備嗎？＋
可以。COMWEB 可依工件、缺陷定義、取像條件、精度、節拍與驗收標準，評估自動光學檢測（AOI）、既有設備改造或客製檢測設備的整合範圍。
AOI／客製瑕疵檢測可以整合全自動進出料站嗎？＋
可以。全自動進出料站可涵蓋片材或捲材的進料、定位、加工或檢測、分選及出料。COMWEB 公開機型已有捲對捲放收料，以及整疊工件自動送料、加工與收料架構；實際配置仍依工件與完整節拍確認。
可以在既有設備上加裝 AOI 或影像判讀嗎？＋
可先評估既有機構、控制介面、可用空間、節拍與安全條件，再判斷保留項目，以及相機、光源、定位、PLC 或 PC-based 控制及結果處理需要調整的範圍。
AOI／客製瑕疵檢測設備如何驗收？＋
先以代表性良品與不良品樣品定義可檢項目、允收界線、精度、誤判、漏判與複判方式，再將完整循環節拍、進出料站及結果處理納入書面驗收條件。